淮安鍍層測厚儀產品介紹

一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

（一）、內部結構

   X熒光光譜測厚儀機型很多，但是其內部結構如果先天不足，后期的外部結構無論自動化多高，也無法完全滿足客戶需求。內部結構重要的3點：

1、X熒光發射和CCD觀測是否同步和垂直？

2、測試樣品是否可以變化測頭到樣品的距離？

3、X光照射面積從出口到樣品的擴散情況。

（二）、各種內部結構的優缺點

   1、X熒光發射和CCD觀測樣品只有同步且垂直才不會因為樣品的高低深淺變化而改變測試到樣品的位置，才能保證定位精準，同時減少與探測器或計數器的夾角，夾角小測試時

受樣品曲面或者傾斜影響小。

2、測試樣品距離可變化才能測試高低不平帶凹槽的樣品工件，同時也兼顧好平面樣品的測試。但是它需要配備變焦鏡頭和變焦

補償射線的算法。

3、X光照射面積從出口到樣品的擴散過于嚴重會導致無法測試樣品工件上較小的平面位置，如果減小出口（準直器直徑），又會嚴重耗損X光的強度。

因此一臺此類儀器的小準直器不是關鍵，但是測試面積卻是個重要的指標。

工業X射線鍍層厚度分析儀以其快速、無損、現場測量等優點，已在冶金、建材、地質、環保、商檢、考古、醫學等領域得到迅速推廣和應用。近幾年來X射線熒光儀已在工業鍍層及涂層厚度測量中應用越來越廣泛。任選靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV，0-1。眾所周知，產品和金屬元件表面鍍層或防腐層厚度是與產品質量與性能相關的重要指標。實驗表明使用同位素X射線熒光分析方法，能夠滿足工業鍍層和涂層厚度的分析要求，并且具有無損、在線、簡便快速、可實現自動控制等特點。

一六儀器 專業測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀 

應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005umxiao測量面積0.002m㎡  深凹槽20mm以上

鍍層厚度分析儀使用注意事項

1．儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三線插頭連到一個已接地的插座上。

2．鍍層厚度分析儀為精密儀器，建議配備的穩壓電源。計算機和儀器應配備不間斷電源（UPS）。

3．鍍層厚度分析儀應特別注意與存在電磁的場合隔離開來。

4．儀器適合在10~40℃（50~104℉）的環境溫度下操作使用，在0~50℃（32~122℉）的溫度下存放。操作和存放的允許濕度范圍在0~65%之間（非冷凝）。在操作過程中，環境溫度和濕度應保持恒定。

5．儀器曝曬在陽光下時溫度極易超過50℃。所以請不要在這樣的環境下操作和存放儀器，以避免高溫對儀器造成損害。

6．為避免短路，嚴禁儀器與液體直接接觸。如果液體進入儀器，請立刻關閉儀器并在重新使用前請技術人員整體檢查儀器。

7．鍍層厚度分析儀不能用于酸性環境和場合。

8．不要弄臟和刮擦元素片或調校標準片，否則會造成讀數錯誤。

9．不要用任何機械或化學的方法清除元素片或調校標準片上的污物。如果必要的話，可以用一塊不起毛的布輕輕擦除臟物。

軟件算法

?大致分為3個方法。一個是制作測量線的方法（經驗系數法）。這個方法是測定幾點實際的已知厚度樣品，尋求想測定元素的熒光X射線強度和厚度之間的關系，以其結果為基礎測定未知樣品取得熒光X射線，從而得到濃度值。

?另一個方法是理論演算的基礎參數法（FP法）。這個方法在完全了解樣品的構成和元素種類前提，利用計算的各個熒光X射線強度的理論值，推測測定得到未知樣品各個元素的熒光X射線強度的組成一致。

?NBS-GSC法也稱作理論Alpha系數法。它是基于熒光X射線激發的基本原理，從理論上使用基本物理參數計算出樣品中每個元素的一次和二次特征X射線熒光強度的。早期的產品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度?；诖嗽儆嬎鉒achance綜合校正系數，然后使用這些理論α系數去校正元素間的吸收增強。它與經驗系數法不同，這些校正系數是從“理論”上取得的，而非建立在“經驗”上。因而它也不需要那么多的標樣，只要少數標樣來校準儀器因子。