國產熒光光度計報價價格合理「泰科施普」

熒光分光光度計測試注意事項

①樣品應盛在四面透光的石英比色皿（熒光池）中，如果是揮發性樣品應使用帶塞的熒光池。

②在熒光分析時，為了得到穩定且可靠的數據，一般需要開機預熱氙燈大約30min。如果儀器光源采用的是閃爍氙燈，預熱時間可以縮短到10min左右。對某些易感光、易分解的熒光物質，盡量采用長波長、低人射光強度及短時間光照。

③溫度變化可引起熒光強度的改變。通常降低溫度，有利于提高熒光量的子產率，熒光強度增大。溫度影響熒光強度的顯著程度因樣品而異，大部分熒光物質的熒光強度受溫度影響不大，測試溫度變化不超過±3℃，對測試結果幾乎無影響。

④當熒光物質是弱酸或弱堿時，溶液的pH對熒光強度有較大影響。因為弱酸或弱堿在不同酸度中，分子和離子的電離平衡會發生改變，而熒光物質的熒光強度會因其離解狀態發生改變。

⑤分子結構中存在π-π共軛的熒光物質在極性溶劑中，熒光效率顯著增強。溶液中表面活性劑的加入能夠顯著提高熒光強度。

⑥瑞利散射和拉曼散射是溶劑的兩種散射光，應注意不要誤把瑞利散射和拉曼散射光譜當做熒光光譜。瑞利散射光波長與激發光波長相同，拉曼散射與激發光波長不同，而熒光物質的熒光波長與激發光波長無關，因此可以通過選擇適當的激發波長將拉曼散射光與熒光分開。在測試時選擇合適的狹縫寬度，或者空白扣除，也可以對散射光的影響進行校正。

⑦熒光物質分子與溶液中其它物質分子之間作用導致熒光強度降低，常見的熒光猝滅劑，如鹵素離子、重金屬離子、硝基化物質、重氮化合物等。

⑧測試過程中注意不要肉眼盯著氙燈光源看，以防眼睛造成損傷。

⑨儀器房應注意經常通風，避免產生的臭氧在室內富集。

熒光概論

物體經過較短波長的光照，把能量儲存起來，然后緩慢發出較長波長的光，發出的這種光就叫熒光。物質在吸收入射光的過程中，光子能量傳遞給物質分子。分子被激發，電子從較低能級躍遷到較高能級，形成電子激發態分子。電子的激發態的多重態用2s 1表示，s為自旋角動量數的代數和，數值為0或1。分子中同一軌道里所占據的兩個電子必須具有相反的自旋方向，即自旋配對。分子中全部電子都自旋配對，即s=0，該分子處于單重態，用S表示。若分子吸收能量后電子躍遷過程中不發生自旋方向的變化，這時分子處于激發的單重態；若躍遷伴隨自旋方向改變，這時分子具有兩個自旋不配對的電子，即s=1，分子處于激發的三重態，符號T表示。符號S0、S1和S2分別表示分子的基態、和第二電子激發單重態，T1和T2則分別表示和第二電子激發三重態。

熒光光譜的壽命

熒光物質具有兩個重要的發光參數：熒光壽命和熒光產率。熒光壽命（τ）是指當激發停止后，分子的熒光強度降到激發時強度的1/e所需的時間，它表示粒子在激發態存在的平均時間，通常稱為激發態的熒光壽命。與穩態熒光提供一個平均信號不同，熒光壽命提供的是激發態分子的信息，前者可以告訴你事情發生了，而后者可以告訴你為什么發生。

熒光光譜儀

隨著科學技術的進步，在60年代初發明了半導體探測器以后，對X-熒光進行能譜分析成了可能。能譜色散型X熒光光譜儀（ED-XRF），用X射線管產生原級X射線照射到樣品上，所產生的特征X射線（熒光）直接進入半導體探測器，便可以據此進行定性分析和定量分析。

　　由于普通能量色散X熒光采用低功率X射線管，又采用濾光片扣除背景和干擾，其背景偏高，分辨率偏小，使得應用范圍受到限制，特別是在輕元素的分析受到限制。隨之X射線偏振器的誕生，產生了一款新型的能量色散X熒光光譜儀，既偏振式能量色散X熒光光譜儀ED（P）-XRF，再加上SDD探測器的使用，不僅提高了（相對使用正比計數管和Si（PIN）探測器的儀器）的分辨率，免去Si(Li)探測器使用液氮冷卻的繁瑣和危險，填補了原來普通能量色散X熒光的輕元素檢出限高，分辨率差的缺陷，又使得（相對波長色散X熒光用戶）購買和使用X熒光儀器的成本大大減低，這使得偏振式能量色散X熒光光譜儀ED（P）-XRF在分析領域的迅猛發展，越來越受到廣泛關注。