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蔡司三坐標(biāo)測量機

三坐標(biāo)測頭

如果不事先定義和校準(zhǔn)測頭，軟件系統(tǒng)本身是無法獲知所使用的探針類型和測量的角度。測量得到的數(shù)據(jù)結(jié)果自然是不正確的。因此，必須要對所使用的測頭進行校驗，使得軟件知道所配置的探針情況，包括探針數(shù)量、方位、探針半徑及探針球心的相互位置關(guān)系。并且了解所使用探針的精度狀況，做到及時更換以確保實現(xiàn)測量的精度要求。

顧名思義，形位公差實際上包含了兩類不同的元素特征評價內(nèi)容，一類是形狀公差、另一類是位置公差。形狀公差共包含直線度、平面度、圓度、圓柱度、線輪廓度和面輪廓度;而位置公差共包含平行度、垂直度、傾斜度、位置度、同心度、同軸度和對稱度。另外，還有一類特殊的形位公差稱作跳動，包括徑向/端面圓跳動和徑向/端面全跳動。跳動從實質(zhì)上來說,也是評價被測元素的形狀誤差，因此我們不妨將其也歸入形狀誤差一類。

光學(xué)測頭雖然有一些接觸式測頭無法提供的優(yōu)勢，但并無法完全替代接觸式測頭，其原因在于光線的可觸及性不如接觸式測頭。測球的各個部位都可以去接觸被測物體來采點，但光的傳播是沿直線的，我們無法讓光“轉(zhuǎn)彎”，必然有一些特征讓光線力所不能及，比如徑深比很小的孔、或是需要L型測針的場合，接觸式測頭比光學(xué)測頭更方便。

沒有好的測頭，究竟怎么選擇還是取決于測量需求。在繁多的測頭種類面前，應(yīng)該不只是以預(yù)算為導(dǎo)向，也不一定要追求全能型的測頭，找到真正合適的產(chǎn)品，才能既快又好地做好質(zhì)量控制。