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光電直讀光譜儀（OES）

光電直讀光譜儀又被稱為火花源原子發(fā)射光譜儀，所采用的原理是用火花的高溫使樣品中各元素從固態(tài)直接氣化并被激發(fā)而發(fā)射出各元素的特征波長，用光柵分光后，成為按波長排列的“光譜”，這些元素的特征光譜線通過出射狹縫，照射在對應(yīng)的光電倍增管光陰極上，光信號變成電信號，經(jīng)儀器的控制測量系統(tǒng)將電信號積分并進行模/數(shù)轉(zhuǎn)換，然后由計算機處理，計算出各元素的百分含量。

組成：其核心部件主要包括光源、分光系統(tǒng)、檢測器等。

用途：光電直讀光譜分析已成為一項成熟的分析技術(shù)，具有樣品處理簡單、分析速度快、分析精度高、多元素同時分析等特點，幾乎所有的鋼鐵企業(yè)、有色金屬企業(yè)、鑄造及機械加工企業(yè)，以及其他采用金屬及其合金進行加工利用的行業(yè)都采用光電直讀光譜儀進行生產(chǎn)過程及產(chǎn)品質(zhì)量控制。

品牌：島津、牛津儀器 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

直讀光譜儀的校準(zhǔn)描跡是對光譜儀的光學(xué)系統(tǒng)進行的校準(zhǔn)。這是校準(zhǔn)的首要前提。

在此條件下可進行如下校準(zhǔn)：標(biāo)準(zhǔn)化即再校準(zhǔn)工作曲線，然后可用到的校準(zhǔn)方法有：(1)、修改持久工作曲線法（修改標(biāo)準(zhǔn)化參數(shù)）；(2)、控樣法；(3)、類型標(biāo)準(zhǔn)化法。

透鏡污染透鏡污染引發(fā)的光強值下降。透鏡安裝在光譜儀的分光室和火花室之間，起隔離分光室和火花室及匯聚譜線的作用。激發(fā)一定數(shù)量的試樣以后，火花室內(nèi)激發(fā)產(chǎn)生的灰燼等污染物及分光室內(nèi)真空泵長時間運轉(zhuǎn)蒸騰產(chǎn)生的油污分子會污染透鏡的兩個表面,降低透鏡的透光性,引發(fā)光強值下降。因此，每隔規(guī)定的時間或分析了一定數(shù)量的試樣后，要將透鏡取下,浸泡在無水乙醇或其他清洗液中數(shù)十分鐘再用干凈的綢布擦拭干凈后裝上。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

在直讀光譜儀上進行分析的樣品均要求為塊狀固體。制備塊狀鋁箔樣品，途徑一是將樣品高溫加熱至熔融，然后冷卻使其凝結(jié)成塊狀；其二是通過機械外力作用把鋁箔壓制成結(jié)實的塊狀。前者對于分析一些易揮發(fā)性元素（As,Sn等）不利；此外，如果鋁箔樣品表面經(jīng)過鈍化等工藝處理，難于融結(jié)。

用第二種方法制備樣品，并以激發(fā)時收集到的基體元素Al的光強來比較各種制樣方法的差異。結(jié)果表明，由機械壓樣機破碎樣壓制制備的鋁箔樣品可勝任在直讀光譜儀上進行快速分析，測定的結(jié)果與化學(xué)方法相一致，適合于日常檢驗樣品量繁重的工廠、實驗室、品質(zhì)檢驗部門之樣品的制備及檢測。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

國產(chǎn)直讀光譜分析儀器1928年以后，由于光譜分析成了工業(yè)的分析方法，光譜儀器得到迅速的發(fā)展，一方面改善激發(fā)光源的穩(wěn)定性，另一方面提高光譜儀器本身性能。六十年代光電直讀光譜儀，隨著計算機技術(shù)的發(fā)展開始迅速發(fā)展，1964年ARL公司展示一套數(shù)字計算和控制讀出系統(tǒng)。由于計算機技術(shù)的發(fā)展，電子技術(shù)的發(fā)展，電子計算機的小型化及微處理機的出現(xiàn)和普及，成本降低等原因、于上世紀(jì)的七十年代光譜儀器幾乎100%地采用計算機控制，這不僅提高了分析精度和速度，而且對分析結(jié)果的數(shù)據(jù)處理和分析過程實現(xiàn)自動化控制。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制