rets吸收軸測試-rets-蘇州大塚電子(查看)

rets相位差光學材料量

產品特點：可更加精準的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現任一個波長的相位差量測。可選配傾斜式、旋轉式量測平臺，評估三次元折射率參數分析等眼簾角特性。共同量測樣品，從容架構量測平臺。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

測定haze補正用樣品（與被測定樣品相同haze特性AG-TAC），取得其補正table. 反復性能。(保證值)是利用本裝置附屬的基準樣本(偏光板)的測量結果（0.1s間隔 定點15回連續測量）。將粘貼面有漏出的樣品貼合與樣品治具上，rets-100，反轉治具測定，rets，玻璃上貼附樣品的場合，將超出部分的film定位與基準面，只反轉樣品進行測定。因本系統為精密光學測定裝置，rets吸收軸測試，作為設置場所，請考慮以下條件。

相位差光學材料量

產品特點：可更加精準的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現任一個波長的相位差量測。

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