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發布時間:2020-11-20 10:27  
本儀器是一套使用積分半球對薄膜狀樣品或粉狀物樣品進行效率測試的系統。
原理為:利用單色儀和氙燈的組合可實現任意波段的激發光并以此來照射熒光材料樣品,FE3000,再以光譜儀對產生的發光光譜進行測試并對其熒光材料特性做出評價。本系統采用了具有高靈敏度、高穩定的本公司的光譜儀對光譜進行測量。
光纖在極度彎曲后會有可能發生斷裂。故,請將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖,以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內,然后放入積分半球內。

大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢!
下圖為積分半球光學系統。投光光纖和采光光纖的安裝位置、半球/全球積分球的種類會與實際情況有所不同。(本次系統采用的是積分半球)。

FE3000反射式膜厚量測儀:主要測試項目:效率測定,FE,效率的激發波長依賴特性,FE膜厚儀,發光光譜、反射光譜測定,透過、吸收光譜測量,PL激發光譜,顏色演算(色度、色溫、演色性等)利用二次激發熒光校正功能去除再激發熒光發光。
解析非線性i小二乘法/波峰波谷解析法/FFT解析法/適化法
基板解析/里面反射補正/各類nk解析模型式
絕i對反射率/解析結果Fitting/折射率n的波長相關性/消光系數k的波長相關性
3D顯示功能(面內膜厚分布、鳥窺圖、等高線、斷面圖)
本儀器是一套使用積分半球對薄膜狀樣品或粉狀物樣品進行效率測試的系統。

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