湖州光譜測厚儀廠家供應「一六儀器」

一六儀器  國內外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀  

一六儀器研發生產的X熒光光譜儀,穩定的多道脈沖分析采集系統,獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

測厚儀操作規程有哪些？測厚儀在使用過程中，如果操作不規范，很容易導致測厚儀出現故障及問題，因此我們在使用前都需要先了解下測厚儀的操作規范及一些常見問題的處理方法：

四.安全衛生

1、源需由專人保管；

2、應有妥善的保管場所（有防盜門、窗和放置源用的鐵皮 柜，距生活區一米遠）；

3、長期不使用時,應放置保管場所；

4、衛生

5、應定期清理主機和探頭外表面，對源鉛罐上表面也要定期清理。

一六儀器  國內外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀  

一六儀器研發生產的X熒光光譜儀,穩定的多道脈沖分析采集系統,獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

儀器規格：

   外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （長x寬x高）

   樣品倉尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （長x寬x高）

   儀器重量 ：55kg

   供電電源 ：交流220±5V

    zui da功率 ：330W

   環境溫度：15℃-30℃

   環境相對濕度：<70%

涂層測厚儀操作規程有哪些

   我們在使用涂層測厚儀時，如果不了解涂層測厚儀的操作規程，那么就很容易出現一些問題，甚至嚴重的可能會對自身產生威脅，那么涂層測厚儀的操作規程有哪些，下面就來了解下先：

 一、操作注意事項

  1. 如果在測量中測頭放置不穩，會引起測量值與實際值偏差較大；

  2.  如果已經進行了適當的校準，所有的測量值將保持在一定的誤差 范圍內；

  3. 儀器的任何一個測量值都是五次看不見的測量平均值；

  4.  為使測量更加準確，可在一個點多次測量，并計算其平均值作為 終的測量結果；

  5.  顯示測量結果后，一定要提起測頭至距離工件10mm以上，才可以 進行下次測量。

X射線熒光的基本原理

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X射線熒光是由原級X射線照射待測樣品時所產生的次級X射線，入射的X射線具有相對較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內層中的電子。X射線熒光光譜的波長在0.01-10納米之間，能量在124KeV-0.124KeV之間。同位素測厚儀利用物質厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長的范圍在0.01-11納米之間，能量為0.111-0.124KeV。

   當X射線激發出試樣特征X射線時，其入射電磁輻射能量必須大于某一個值才能引起其內層電子激發態從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個值是吸收限，相當于內層電子的功函數。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發原子內層電子并產生特征X射線。X射線測厚儀應用在哪些方面適用范圍：生產鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產品的企業，可以與軋機配套，應用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。