紹興光譜測(cè)厚儀歡迎來(lái)電,江蘇一六儀器

一六儀器  國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例

測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些？測(cè)厚儀在使用過(guò)程中，如果操作不規(guī)范，很容易導(dǎo)致測(cè)厚儀出現(xiàn)故障及問(wèn)題，因此我們?cè)谑褂们岸夹枰攘私庀聹y(cè)厚儀的操作規(guī)范及一些常見(jiàn)問(wèn)題的處理方法：

四.安全衛(wèi)生

1、源需由專人保管；

2、應(yīng)有妥善的保管場(chǎng)所（有防盜門、窗和放置源用的鐵皮 柜，距生活區(qū)一米遠(yuǎn)）；

3、長(zhǎng)期不使用時(shí),應(yīng)放置保管場(chǎng)所；

4、衛(wèi)生

5、應(yīng)定期清理主機(jī)和探頭外表面，對(duì)源鉛罐上表面也要定期清理。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。

影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些

   影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些？生產(chǎn)產(chǎn)品過(guò)程中，可能就因?yàn)橐稽c(diǎn)點(diǎn)的誤差，可能這批產(chǎn)品就成了報(bào)廢品，而這種情況在批量生產(chǎn)的廠家中為常見(jiàn)，也是需要注意的一個(gè)點(diǎn)。因此我們也就得對(duì)影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有所了解了。

3)人為因素。這中情況經(jīng)常會(huì)發(fā)生在新用戶的身上。涂層測(cè)厚儀之所以能夠測(cè)量到微米級(jí)就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓阉D(zhuǎn)化成為數(shù)字信號(hào)。在使用儀器測(cè)量過(guò)程中如果用戶對(duì)本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測(cè)機(jī)體，使磁通量csgia發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測(cè)量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時(shí)，要先掌握好測(cè)量方法。探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過(guò)長(zhǎng)，以免造成基體本身磁場(chǎng)的干擾。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。

一六儀器-------鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x

X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素有哪些

首先,是X射線的高壓控制箱會(huì)對(duì)測(cè)量的精度造成一定的影響。X射線測(cè)厚儀的測(cè)量原理就是通過(guò)施加高壓電源出X射線,通過(guò)X射線的穿透物體時(shí)的衰減量來(lái)測(cè)量被測(cè)物體的厚度。但是高壓控制箱的安裝位置會(huì)對(duì)測(cè)厚儀的準(zhǔn)確度造成一定的影響。安裝的位置不當(dāng)就會(huì)使測(cè)量的精度不準(zhǔn)確波動(dòng)比較明顯。另外,X射線本身的衰減也會(huì)影響測(cè)厚儀的測(cè)量精度。⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

一六儀器---鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x

儀器規(guī)格：

外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長(zhǎng)x寬x高）

樣品倉(cāng)尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長(zhǎng)x寬x高）

儀器重量 ：55kg

供電電源 ：交流220±5V

da功率 ：330W

環(huán)境溫度：15℃-30℃

環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

測(cè)厚儀和膜厚儀一樣嗎

   測(cè)厚儀和膜厚儀是不一樣的，膜厚儀屬于測(cè)厚儀的分類，也就是說(shuō)測(cè)厚儀是膜厚儀的上司一樣，對(duì)此我們也可以來(lái)了解下測(cè)厚儀跟膜厚儀的一些概念：

測(cè)厚儀按原理分類:激光測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、X射線測(cè)厚儀、壓力測(cè)厚儀、白光干涉測(cè)厚儀、電解式測(cè)厚儀、機(jī)械接觸式測(cè)厚儀。

測(cè)厚儀的原理：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量，當(dāng)探頭發(fā)射超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)準(zhǔn)確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。當(dāng)儀器出現(xiàn)非正常現(xiàn)象時(shí)，請(qǐng)不要拆卸或調(diào)節(jié)任何固定裝配的零件，請(qǐng)交給廠家維修部門檢測(cè)、維修。