濰坊涂層測厚儀免費咨詢,一六儀器有限公司

一六儀器 專業測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題

 在我們的售前服務工作中，客戶通常都會拿一些在其它機構或者儀器測量過的樣品來與我們儀器進行測試結果對比，在確認雙方儀器都是正常的情況下，會存在或多或少的差異，那么我們務必要把這個差異的來源分析給客戶，我們在分析之前首先要給客戶解說測試的基本原理，告知此儀器為對比分析測試儀器，然后再談誤差來源，主要來源：

  1、標樣：對比分析儀器是要求有越接近于需測試樣品的標樣，測試結果越接近實際厚度。確認雙方有沒有在標定和校正時使用標樣？使用的是多少厚度的標樣？

2、樣品材料的詳細信息：如Ni/Cu的樣品，如果一家是按化學Ni測試，一家是按純Ni測試；Au/Ni/Cu/PCB樣品，一款儀器受Br干擾，一款儀器排除了Br干擾。

   3、測量位置、面積：確定在同一樣品上測試的是否同一位置，因為樣品在電鍍時因電位差不同，各部位厚度是有差異的；確認兩款儀器測量面積的大小有多少差異。

4、樣品形狀：測量的樣品是否是兩款儀器都可測量，或者放置位置是否合適，如突出面有無擋住設備接收。

這些方法中種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。2、分析速度快，無須進行樣品預處理，升值無須樣品的制備，X射線熒光光譜分析可以篩選大量的樣品。X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有源，使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。

隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、、實用化的方向進了一步。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業和科研使用廣泛的測厚儀器。采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經濟地進行。

江蘇一六儀器   X熒光鍍層測厚儀  一六儀器、一liu品質!各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎咨詢聯系！

1X射線激發系統垂直上照式X射線光學系統空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV，0-1.0mA)-標準75W(4-50kV，0-1.5mA)-任選X射線管功率可編程控制裝備有安全防射線光閘

2濾光片程控交換系統根據靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統二次X射線濾光片:3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創探測器窗口

3準直器程控交換系統多可同時裝配6種規格的準直器，程序交換控制多種規格尺寸準直器任選:-圓形，如4、6、8、12、20mil等-矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

4測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，測量斑點尺寸小至為:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm準直器)在12.7mm聚焦距離時，測量斑點尺寸大至為:0.38x0.42mm(使用0.3mm準直器)

5X射線探測系統封氣正比計數器裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路

6樣品室CMI900CMI950-樣品室結構開槽式樣品室開閉式樣品室-樣品臺尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY軸程控移動范圍標準:152.4x177.8mm任選:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z軸程控移動高度43.18mmXYZ程控時，152.4mmXY軸手動時，269.2mm-XYZ三軸控制方式多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗，經與海內外多名通力合作，研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀。

測厚范圍可測定厚度范圍:取決于用戶的具體應用。將列表可測定的厚度范圍-基本分析功能無標樣檢量線測厚，可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數方法校正。根據客戶本身應用提供必要的校正用標準樣品。不要用任何機械或化學的方法清除調校片上的臟物,可以用不起毛的布輕輕擦拭。樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測元素范圍:Ti22–U92可同時測定5層/15種元素/共存元素校正組成分析時，可同時測定15種元素多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析-調整和校正功能系統自動調整和校正功能:校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結果的影響，自動消除系統漂移譜峰計數時，峰漂移自動校正功能譜峰死時間自動校正功能譜峰脈沖堆積自動剔除功能標準樣品和實測樣品間，密度校正功能譜峰重疊剝離和峰形擬合計算-測量自動化功能(要求XY程控機構)鼠標控制測量模式:'PointandShoot'多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式測量位置預覽功能激光對焦和自動對焦功能-樣品臺程控功能(要求XY程控機構)設定測量點oneorTwoDatumn(reference)Pointsoneachfile測量位置預覽