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發布時間:2021-01-01 14:03  
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大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢!
產品特點:可更加精準的量測低相位差(0.1nm~)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀,展現任一個波長的相位差量測。可選配傾斜式、旋轉式量測平臺,評估三次元折射率參數解析等視野角特性。配合量測樣品,自由架構量測平臺。
相位差光學材料量
產品特點:可更加精準的量測低相位差(0.1nm~)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀,展現任一個波長的相位差量測。
光學薄膜
?相位差膜、橢圓膜、相位差板
?偏光膜、附加功效偏光膜、偏光板、別的光學資料
■液晶層
?穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強誘電性液晶)
?反射型液晶層(TN,STN)
本設備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動大型X-Y平臺以及偏光光學系,測定透過型液晶面板面內的cellgap和預斜角(含MVA)的系統。
本Software自動制御偏光Prism unit和MCPD,測量LCD Cell Gap以及Pre-tilt角的測量。每個Sample品種,會準備Recipe(測量條件File)所以Operator 放置Sample后,選擇Recipe,即可實現測量。