布魯克近紅外光譜儀原理-近紅外光譜儀原理-泰科施普(查看)

近紅外光譜儀器技術

近紅外光譜分析主要利用分子的倍頻與合頻吸收，而分子在近紅外區的倍頻與合頻吸收弱，譜帶復雜，重疊多。因此，近紅外光譜分析屬于微弱信號與多元信息的處理。近十多年來由于光學技術、電子技術與計算機軟硬件技術的發展，進口近紅外光譜儀原理，使分析科學中弱信號處理的理論和技術越來越成熟，它們被用來解決NIR光譜吸收弱的困難。現代數學在分析中的應用，化學計量學的發展以及計算機的廣泛應用，布魯克近紅外光譜儀原理，使多組分分析中多元信息處理的理論與技術得到發展，它們被用于解決NIR譜區重疊的困難。近紅外光譜分析主要可分為透射光譜分析和漫反射光譜分析。透射光譜分析使用近紅外的短波長區域主要用于對液體狀樣品或透過率較大的樣品進行分析;漫反射光譜分析使用近紅外的長波長區域主要用于對粉末狀樣品或固體樣品進行分析。

紅外光譜儀常見故障及排査方法

紅外光譜儀干涉圖能量低，導致信噪比不理想。

可能原因：

1.光路準直未調節好或非智能紅外附件位置未調整到正確位置；

2.紅外光源已損壞或能量已衰竭

3.檢測器已損壞或MCT檢測器無液氮；

4.分束器損壞；

5.各種紅外反射鏡或紅外附件的鏡面太臟；

6.光闌孔徑太小或信號增益倍數太小；

7.圓光路中有衰減器。

排除方法：

1.啟動光路自動準直程序，如果正在使用非智能紅外附件，則還需要人工準直；

2.更換紅外光源；

3.請維修工程師檢查，必要時更換檢測器(檢測器損壞很有可能是由于受潮

引起，因此更換后應注意保持儀器室的干燥，對于MCT檢測器可添加液氮再重

新檢查；

4.請維修工程師檢查，必要時更換分束器(分束器損壞很可能是由于受潮引

起或更換時碰撞產生裂痕引起，因此更換后應注意保持儀器室的干燥，從儀器上取出或裝入時一定要非常小心)；

5.請維修工程師清洗；

6.重新設置光闌孔徑或信號增益倍數，使之處于適當值；

7.取下光路中的衰減器。

紅外光譜儀光學臺未能工作，不能產生干涉圖：

可能原因：

1.分束器未固定好或已損壞；

2.計算機與光學臺未能連接；

3.控制電路板損壞；

4.光譜儀輸出電壓不正常；

5.操作軟件有問題；

6.光譜儀室溫度過高或過低；

7.檢測器已完全損壞；

8.He-Ne激光器不工作或能量已較大衰減。

紅外光譜儀使用需要注意的事項

一、注意要符合規定的環境條件來使用，值得相信的紅外光譜儀廠家提醒要注意實驗室的溫度以及相對濕度都應該在標準范圍以內，所用電源應配備有穩壓裝置和接地線。為了更好的把關這些條件，紅外實驗室的面積不要太大，能放得下必須的儀器設備即可，但室內一定要有除濕裝置。還有實驗室里的CO2含量不能太高，因此實驗室里的人數應盡量少，無關人員盡量不要進入，還要注意適當通風換氣。

二、為防止儀器受潮而影響使用壽命，紅外光譜儀商家強調紅外實驗室應經常保持干燥，即使儀器不用，布魯克近紅外光譜儀原理，也應每周開機至少兩次，每次半天，同時開除濕機除濕。特別是霉雨季節，盡量是能每天開除濕機。還有使用紅外光譜儀測定用樣品應干燥，否則應在研細后置紅外燈下烘幾分鐘使干燥。試樣研好并具在模具中裝好后，應與真空泵相連后抽真空至少2分鐘，以使試樣中的水分進一步被抽走，近紅外光譜儀原理，然后再加壓到一定的標準后維持幾分鐘。

三、注意在使用紅外光譜儀時，如供試品為鹽酸鹽，因考慮到在壓片過程中可能出現的離子交換現象。

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